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功能材料測(cè)試儀器

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更新時(shí)間：2024-10-29

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Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

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Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

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Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)；可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
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Huace-8D 雙面探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-10-29

型號(hào)：

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