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高溫低電阻測試儀 測試環(huán)境及功能特點(diǎn)

更新時(shí)間:2024-01-09      點(diǎn)擊次數(shù):1617

高溫低電阻測試儀

公司開發(fā)的高溫低電阻測試系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺(tái)、高溫測試夾具與keithley(吉時(shí)利)系列、2400、2450、2600系列源表測量設(shè)備連接。

HGTZ-900高溫低電阻測試儀器采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測試治具可以實(shí)現(xiàn)不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。
 
目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,這種方式也易存在感應(yīng)電流,無法實(shí)現(xiàn)溫度精度高要求的測量,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時(shí),具有良好的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,用石英管保護(hù)加熱式樣,無氣氛污染??稍诟哒婵眨叱黾兌葰怏w中加熱 。大大提升精度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
 HGTZ-900
系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):

1、高速加熱與冷卻方式:高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)較快速的冷卻。

2、溫度控制:過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在大部分溫度下可提供高的精度。

3、不同環(huán)境的加熱與冷卻:加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。

功能特點(diǎn):

  多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測試;
 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提升測試精度;
 可以測量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;
 可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
 溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制,使測量溫度比較可靠;
 儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv;
 10寸觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠;

 程控電子升壓技術(shù),紋波更低、TVS防護(hù)系統(tǒng),保證儀器安全性;

 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

 huace pro 控制分析軟件。

適用范圍

█多晶硅材料      
█ 石墨功能材料      
█ 導(dǎo)電功能薄膜材料

█ 導(dǎo)電玻璃(ito)材料

█ 其它導(dǎo)電材料等。

█ 石墨烯材料
█ 半導(dǎo)體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明導(dǎo)電薄膜。

整體為桌面型設(shè)計(jì),可以實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏,可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線,并實(shí)現(xiàn)和其他測試設(shè)備的集成控制。定點(diǎn)控溫模式下,可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度??販丶訜嵯?,可以5/s速率下線性加熱到1000攝氏度。在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1小時(shí)。采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。

樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過流等報(bào)警保護(hù)裝置。

溫度均勻區(qū):60mm*100mm。

硬件配置:

█集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機(jī)印接口,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
█支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢  

軟件功能:

測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合絕緣材料的各項(xiàng)測試需求,具備較強(qiáng)的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持新的標(biāo)準(zhǔn),兼容XPwin7、win10系統(tǒng)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 狀態(tài)監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)瀏覽;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);

█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

技術(shù)參數(shù):

溫度范圍:室溫-1000,(反射爐加溫)配水冷機(jī);

控溫精度:±0.5℃;

測量精度:±0.25℃;
升溫斜率:20/min (可設(shè)定)
降溫斜率:1-200/min (可自調(diào)整);
測量精度:0.5%;
樣品規(guī)格:直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi);

電極材料:鉑金;

測量方式:2-4線測量方式;
測量范圍:0.1uΩ-100MΩ
供 電:220V±10%50Hz;
工作環(huán)境:0 - 55℃;
存儲(chǔ)條件:- 40-70℃;
尺 寸:750mmX660mmX360mm;

重 量:25 kg



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